长余辉荧光衰减分析系统

开发材料荧光分析系统,利用高速CCD成像镜头、图像采集卡等作为硬件支持,以Windows界面程序为软件平台,实时捕捉并存储材料的荧光光谱图像。实现了实时观测材料荧光强度和亮度随时间的变化过程,对其强度和亮度的区域变化规律进行异步分析。软件主要实现的功能如下:

· 发光样品某点的亮度随时间的变化规律描述;
· 发光样品上某几点亮度随时间变化的规律比较;
· 同一时刻,不同发光点发光强度随位置的变化规律;
· 对曲线的进行处理,主要方法有寻峰、平滑等。

程序界面框架主要包括三部分,一是材料荧光光谱图像的显示,二是材料某点或某几点的发光强度衰减变化,三是材料块发光强度的空间分步曲线。